탁상용 LCR 미터 디지털 테스터 10Hz - 1MHz

커패시턴스 저항 인덕턴스 정확도 0.05% 10Hz - 1MHz용 벤치탑 LCR 미터 디지털 테스터

명세서

TOB-ET35 시리즈 LCR 디지털 브리지는 10Hz~1MHz 테스트 대역폭, 지속적으로 조정 가능한 주파수, 기본 측정 정확도의 0.05%, 자동 레벨 제어, 목록 스캔 및 위치를 특징으로 하는 자동 밸런싱 브리지 원리를 사용하는 고정밀 구성 요소 매개변수 분석기입니다. 카운팅은 대부분의 구성 요소 및 재료에 대해 정확하고 완전한 측정 및 분석을 제공할 수 있으므로 제품 R&D, 구성 요소 입고 검사 및 온라인 제품 분류에 널리 사용됩니다.

제품 특징:

• 0.05% 기본 정확도
• 최대 200회/초 측정 속도
• 10Hz-1MHz의 주파수 측정 범위, 연속 조정 가능, 단계별 1mHZ
• 여기 신호의 진폭 10mV~2V 조정 가능, 1mV 단계적으로
• 내부 프로그래밍 가능 DC 바이어스 전압 -2V~+2V
• 인가되는 외부 dc 바이어스 전압 지원 -60V~+60V
• 외부 전류 소스 지원
• V,I 테스트 신호 모니터링
• 10포인트 목록 스캐닝 테스트
• 10등급 분류 및 카운팅
• 지정된 주파수에 대한 수정 데이터의 100개 그룹
• 자동 범위, 수동 범위
• 7" LED 디스플레이 화면, 중국어 및 영어 인터페이스
• USB, 이더넷, RS232, GPIB, 핸들러 인터페이스

측정 대상:

• 수동 구성 요소: 커패시터, 인덕터, 자기 코어, 저항, 압전 장치, 변압기, 칩 구성 요소 및 네트워크 구성 요소에 대한 임피던스 매개변수 평가 및 성능 분석.
• 반도체 부품: 버랙터의 C-VDC 특성; 기생 매개변수 트랜지스터 및 집적 회로 분석
• 기타 구성 요소: 인쇄 회로 기판, 릴레이, 스위치, 케이블, 배터리 등의 임피던스 평가
• 유전 재료: 플라스틱, 세라믹 및 기타 재료의 유전 상수 및 손실 각도;
• 자성체 : 페라이트, 비정질체 및 기타 자성체의 투자율 및 손실각 평가
• 반도체 재료: 반도체 재료의 유전율, 전기전도도 및 C-V 특성
• 액정 재료: 액정 유닛의 유전 상수, 탄성 상수 및 기타 C-V 특성

신청:

• 전자 커패시터, 기판, PCB, 안테나, 페라이트, 댐퍼, SAR 팬텀 재료
• 항공우주/국방, 스텔스 기술, RAM(레이더 흡수재), 레이더 안테나 하우징
• 산업자재, 세라믹 및 복합소재, 자동차 부품, 코팅
• 폴리머, 플라스틱 섬유, 필름, 절연 재료
• 하이드로겔, 일회용기저귀, 소프트콘택트렌즈
• 액정 디스플레이
• 이러한 재료를 포함하는 기타 제품: 타이어, 페인트, 접착제
• 식품 및 농업: 식품 보존(변질) 연구, 전자레인지 식품 개발, 포장 및 수분 함량 측정
• 임업 및 광업: 목재/종이 제품의 수분 함량 측정 및 오일 함량 분석
• 약학 및 의학: R&D 및 약물 생산, 생물학적 이식, 인체 조직 특성화, 바이오매스 및 발효

• 전원 전압: 220V.AC/50Hz ±10%,
• 전력 소비: <20W
• 디스플레이: 7" TFT LCD, 해상도 800*480
• 인터페이스: LAN, RS232, GPIB, USB 호스트, USB 장치 및 핸들러
• 서비스 환경: 0°C-40°C
• 크기: 330mm*285mm*136mm(L*W*H)
• 무게: 3.6kg

제품 전시

스카이프:amywangbest86

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